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中国计量测试学会专家对科技成果进行鉴定

来源:未知 时间:2019-04-16 15:44
 
  十三日,我国计量测验学会安排有关专家对华中科技大学完结的“高精度宽光谱穆勒矩阵椭偏丈量关键技能与纳米丈量使用”科技效果进行了判定。
 
  天津大学叶声华院士、西安交通大学蒋庄德院士、清华大学尤政院士、大连理工大学贾振元教授、我国计量科学研究院高思田研究员、北京理工大学赵维谦教授、西北工业大学苑伟政教授、上海交通大学朱利民教授、浙江大学居冰峰教授作为判定委员参与判定会。

 
  判定会由叶声华院士掌管。判定委员会听取了项目组人员所作的项目工作总结、技能研究报告、查新状况、效益状况等;听取了测验组组长报告的测验状况以及用户介绍的使用状况。一起,进行了现场调查。
 
  该项目由华中科技大学刘世元教授团队和武汉颐光科技有限公司共同完结。项目提出一系列新原理、创造新技能、构建新模型,并研制出我国第一台精度宽光谱穆勒矩阵椭偏仪,完成了效果转化与产业化,形成了系列高端椭偏仪产品。经判定会全体评定专家仔细评定,共同以为:该效果理论上有重要立异、技能上有重大突破,全体技能到达世界先进水平。其间,根据复合波片的宽光谱超级消色差偏振相位推迟技能和根据椭偏散射的纳米结构核算丈量方法属世界创始,处于世界领先水平。
 
  该项目打破了长期以来国外企业对我国高端椭偏仪商场的独占,填补了我国在高端椭偏仪范畴的空白,自2013年完成效果转化和产业化以来,仪器在国内外100余家学术组织获得成功使用,发生了重要的国内外影响,对我国先进制造业发生重大意义。
 
  
 
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